測厚儀覆層厚度丈量說明

  對材料表面保護、裝飾形成的籠蓋層，如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學天生膜等，在有關國家和國際尺度中稱為覆層 覆層厚度丈量已成為加工產業、表面工程質量檢測的重要一環，是產品達到優等質量尺度的必備手段。為使產品國際化，我國出口商品和涉外項目中，對覆層厚度有了明確的要求。
覆層厚度的丈量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差丈量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性丈量法及渦流丈量法等。這些方法中前五種是有損檢測，丈量手段繁瑣，速度慢，多合用于抽樣檢修,而本公司生產經營的HCH-2000系列超聲波測厚儀、MC-2000系列涂層測厚儀很好的解決了這方面缺陷。

      X射線和β射線法是無接觸無損丈量，但裝置復雜昂貴，丈量范圍較小。因有放射源，使用者必需遵守射線防護規范。X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層丈量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。 跟著技術的日益提高，特別是近年來引入微機技術后，采用磁性法和渦流法的測厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。丈量的分辨率已達0.1微米，精度可達到1%，有了大幅度的進步。它合用范圍廣，量程寬、操縱簡便且價廉，是產業和科研使用zui廣泛的測厚儀器。采用無損方法既不破壞覆層也不破壞基材，檢測速度快，能使大量的檢測工作經濟地進行丈量原理與儀器 。

     電渦流丈量原理 :

     高頻交流信號在測頭線圈中產生電磁場，測頭靠近導體時，就在其中形成渦流。測頭離導電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個反饋作用量表征了測頭與導電基體之間間隔的大小，也就是導電基體上非導電覆層厚度的大小。因為這類測頭專門丈量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度，所以通常稱之為非磁性測頭。非磁性測頭采用高頻材料做線圈鐵芯，例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應原理比較，主要區別是測頭不同，信號的頻率不同，信號的大小、標度關系不同。與磁感應測厚儀一樣，渦流測厚儀也達到了分辨率0.1um，答應誤差1%，量程10mm的高水平。

      采用電渦流原理的測厚儀，原則上對所有導電體上的非導電體覆層均可丈量，如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導電性，通過校準同樣也可丈量，但要求兩者的導電率之比至少相差3-5倍（如銅上鍍鉻）。固然鋼鐵基體亦為導電體，但這類任務仍是采用磁性原理丈量較為合適。