用掃描電子顯微鏡進行形貌分析有哪些特點

放大倍率大。。高達幾十萬倍。。
分辨率高。。幾個nm
景深大
成本高
樣品可能需要前處理
操作較復雜
以下抄來的：
和光學顯微鏡及透射電鏡相比，掃描電鏡SEM（Scanning Electron Microscope）具有以下特點： 　　
(一) 能夠直接觀察樣品表面的結構，樣品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。 　　
(二) 樣品制備過程簡單，不用切成薄片。 　　
(三) 樣品可以在樣品室中作三度空間的平移和旋轉，因此，可以從各種角度對樣品進行觀察。 　
(四) 景深大，圖象富有立體感。掃描電鏡的景深較光學顯微鏡大幾百倍，比透射電鏡大幾十倍。
(五) 圖象的放大范圍廣，分辨率也比較高。可放大十幾倍到幾十萬倍，它基本上包括了從放大鏡、光學顯微鏡直到透射電鏡的放大范圍。分辨率介于光學顯微鏡與透射電鏡之間，可達3nm。
(六) 電子束對樣品的損傷與污染程度較小。 　　
(七) 在觀察形貌的同時，還可利用從樣品發出的其他信號作微區成分分析。