激光電離質譜法（ laser ionization mass spectrornetry， L IMS）
是利用激光電離質譜儀進行質譜分析的一種方法，具有微區分析功能，可進行逐層剖析，剖析深度可達1um至幾十微米，分析雙敏度高，相對檢測極限5μg/g，在高純材料、生物、醫學等領域獲得成功應用。
