JEOL在Pittcon2019展出下一代臺式掃描電子顯微鏡JCM7000

　　分析測試百科網訊2019年3月17日至21日，Pittcon 2019在美國賓夕法尼亞州費城會議中心舉行。在本屆展會上，日本電子（JEOL）不僅推出了JMS-TQ4000GC三重四極桿質譜儀系統（相關鏈接：JEOL在Pittcon 2019推出三重四極桿質譜儀JMS-TQ4000GC），還展示了剛發布的第四代臺式掃描電子顯微鏡（SEM）JCM-7000系列。這款產品體積小巧，卻可提供全尺寸SEM全面的強大功能。

臺式掃描電子顯微鏡JCM-7000

　　新的JEOL NeoScope（型號JCM-7000）將在位于費城的Pittcon 2019展位＃3035展出。 這款臺式掃描電子顯微鏡的先進技術和功能使得任何技術水平的用戶都可以在幾分鐘內獲得出色的SEM圖像和元素分析結果。

JEOL日本電子展臺

　　 NeoScope可產生高達100,000倍的高放大倍率和大景深，配有大樣品室，高低真空模式，二次和背向散射電子探測器，實時三維成像，高度先進的自動功能，以及通過“實時”分析添加完全嵌入式EDS的選項。

　　“Zeromag”無縫導航

　　這款第4代臺式SEM采用了“Zeromag”功能，這是首次在全尺寸JEOL鎢燈絲掃描電子顯微鏡中引入的功能。顯微鏡無縫導航樣品，自動聚焦于感興趣的區域，快速實現高分辨率的SEM成像和分析。

　　實時分析

　　使用嵌入式能量色散X射線探測器（EDS），可以自動檢測并實時顯示EDS光譜和構成樣品的主要元素。

　　實時3D成像

　　除了實時SEM圖像，NeoScope還可以顯示樣品表面的實時3D圖像，包括樣品表面形貌和深度信息。

　　自動操作功能

　　基于樣品類型和應用的自動條件設置可確保高質量的結果并提高生產率。高度先進的自動功能可生成出色的保真度圖像，可進行高分辨率的SEM成像和分析。自動化功能包括對焦，對齊，對比度和亮度，便于操作和應用于各種樣品。

　　任何人可使用的SEM

　　NeoScope滿足了簡單操作的小型掃描電子顯微鏡的需求，同時提供了高端儀器的幾個關鍵性能特征。NeoScope是學校理想的教學工具，也是質量控制篩選儀器以及靈活的小型研究顯微鏡。NeoScope由JEOL和尼康及其附屬公司銷售。