這個叫做secondary ion mass spectrometry。用在固體分析的多一些。
通常直接用粒子束轟擊固體表面，然后固體表面會被“離子化”，采集然后分析這些離子稱為二次離子質譜法。
舉個例子，你用DART離子源發射離子到表面，然后生成離子，之后再分析就是二次離子質譜分析。
但是如果你用MALDI，激光直接打到表面然后形成splash，這種就不是二次離子質譜分析。
有人直接用ESI噴到表面的，這個可能更直接一點。ESI產生離子，離子拆分固體表面，形成離子（這個可能是電子交換，也可能是直接出來的）。