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  • 高功率射頻及微波無源器件中的考慮和限制(二)

    適配器和終端 由于每個適配器和終端都會引入不必要的插入損耗和反射,因此仔細選擇正確的組件可以防止不必要的信號降級并可能對敏感電子設備造 適配器和終端有多種形式,通常是同軸或波導,用于高功率應用。另外,適配器可能更復雜,因為適配器任一端的尺寸和類型可能不同。此外,適配器本身可能引入轉彎或彎曲。 必須仔細檢查適配器的功率和頻率范圍,特別是如果適配器是波導到同軸轉換。波導自然只能使頻帶范圍的帶寬以高信號保真度傳輸,其中同軸技術僅具有截止頻率。然而,不同的同軸連接器類型也具有不同的功率和頻率容量。如果適配器是兩種不同同軸連接器類型之間的過渡,則頻率,功率處理,PIM,插入損耗和其他參數將受到影響。 現代模擬器現在包括EM和熱模擬,用于預測濾波器或其他無源元件器件中的熱行為和應力。 終端首當其沖地耗盡設備內潛在的極端RF能量。通常,用于高功率應用的終......閱讀全文

    高功率射頻及微波無源器件中的考慮和限制-(二)

    適配器和終端 ? 由于每個適配器和終端都會引入不必要的插入損耗和反射,因此仔細選擇正確的組件可以防止不必要的信號降級并可能對敏感電子設備造 適配器和終端有多種形式,通常是同軸或波導,用于高功率應用。另外,適配器可能更復雜,因為適配器任一端的尺寸和類型可能不同。此外,適配器本身可

    高功率射頻及微波無源器件中的考慮和限制-(一)

    RF和微波無源元件承受許多設計約束和性能指標的負擔。根據應用的功率要求,對材料和設計性能的要求可以顯著提高。例如,在高功率電信和軍用雷達/干擾應用中,需要高性能水平以及極高功率水平。許多材料和技術無法承受這些應用所需的功率水平,因此必須使用專門的組件,材料和技術來滿足這些極端的應用要求。

    光無源器件的功率計

      功率計探測器的材料大致決定了功率計的整體性能,一般有Ge、Si、InGaAs等材料的探測器,除此之外還有一種低偏振反映度(PDR)探測器,這種探測器是在InGaAs探測器的基礎上添加一些材料使得其對PDL非常不敏感,所以很適合用于PDL的測試。  除了材料之外,探測器面積是決定其用途的重要參數,

    射頻無源器件自動測試系統NSAT1000

    1.?系統優勢>>改進傳統測試工序復雜、測試合格率不穩定的問題>>一鍵完成各類測試,自動生成各類測試報告>>提高測試效率50倍2.?系統概述>>系統控制測試終端——矢量網絡分析儀。>>系統可自動測量射頻無源器件包括射頻連接器、射頻線纜、濾波器、功分器、天線、放大器、衰減器、混頻器、耦合器、屏蔽材料等

    使用微型模塊SIP中的集成無源器件(二)

    分立元件的局限性過去,無源元件是分立的,這意味著它們是分別制造的,并且在電路中通過印刷電路板(PCB)上的導線或電源軌相連。隨著時間的推移,它們沿著三條路徑發展演變:更小的尺寸、更低的成本和更高的性能。這些發展現在已經很成熟并經過了優化,但是占位尺寸和高度尺寸意味著分立無源元件總是限制了縮小整體解決

    基于ADS的射頻微波元器件模型庫構建(二)

    3.3.1 線性模型提取對于線性模型,通常可以使用n端口散射矩陣(S參數)來進行描述。S參數使用入射電壓波和反射電壓波的方式定義網絡的輸入、輸出關系,從而表征整個網絡的特性。S參數采用Touchstone文件格式,也被稱作SnP文件。使用矢量網絡分析儀,可以直接生成SnP文件。大多數無源器件都可以使

    應用于射頻的集成無源器件硅基轉接板技術

    摘要 ? 展示了一種應用于射頻微系統領域的可以集成射頻無源器件的硅基轉接板結構。該結構將電感、電容、電阻、傳輸線和 TSV 等集成在適用于微波應用的高阻硅襯底上,可實現芯片級的CMOS 、 MMIC 及 MEMS 多種不同材料器件集成。采用這種方法制備的傳輸線損耗在 40 GH

    光無源器件簡介

      光無源器件是光纖通信設備的重要組成部分,也是其它光纖應用領域不可缺少的元器件。具有高回波損耗、低插入損耗、高可靠性、穩定性、機械耐磨性和抗腐蝕性、易于操作等特點,廣泛應用于長距離通信、區域網絡及光纖到戶、視頻傳輸、光纖感測等等。

    光無源器件激勵源相關介紹

      測試光源是測試系統的激勵源,由于用于測試而非用于傳輸,一般來說不需要功率太高,激光光源0dBm,寬譜源-10dBm/nm足以滿足測試要求。同樣因為是用于測試,光源的功率穩定度相當重要,除此之外還有一個相干長度的問題。其實任何激光光源都有相干長度的問題,一般FP或DFB激光光源的相干長度為1,00

    Q開關的類型

    聲光Q開關最常見的Q開關類型就是聲光調制器。只要聲波關閉,晶體或者玻璃片產生的透射損耗就非常小,但是聲波打開后,會產生很強的布拉格反射,每次通過產生的損耗在50%左右,在線性激光諧振腔中通過兩次會產生75%的損耗。為了產生聲波,電子學驅動器需要功率在1W的射頻功率(或者在大孔徑器件中需要幾個瓦特)和

    Q開關的類型

    聲光Q開關最常見的Q開關類型就是聲光調制器。只要聲波關閉,晶體或者玻璃片產生的透射損耗就非常小,但是聲波打開后,會產生很強的布拉格反射,每次通過產生的損耗在50%左右,在線性激光諧振腔中通過兩次會產生75%的損耗。為了產生聲波,電子學驅動器需要功率在1W的射頻功率(或者在大孔徑器件中需要幾個瓦特)和

    使用微型模塊SIP中的集成無源器件(三)

    使用ADI的集成無源器件(iPassives)如前所述,高質量的無源器件一直是ADI多年來眾多產品所實現的電路性能的核心。在此期間,無源器件的范圍不斷擴大并且質量不斷提高,集成無源器件產品組合現在包含大量元件。集成無源器件采用模塊化工藝,這意味著只有在需要特定元件時才需要執行生產某種類型無源器件所需

    使用微型模塊SIP中的集成無源器件(一)

    簡介集成無源器件在我們的行業中并不是什么新事物——它們由來已久且眾所周知。實際上,ADI公司過去曾為市場生產過這類元件。當芯片組將獨立的分立無源器件或者是集成無源網絡作為其一部分包含在內時,需要對走線寄生效應、器件兼容性和電路板組裝等考慮因素進行仔細的設計管理。雖然集成無源器件繼續在業界占據重要地位

    光無源器件測試方法簡介

      光無源器件測試是光無源器件生產工藝的重要組成部分,無論是測試設備的選型還是測試平臺的搭建其實都反映了器件廠商的測試理念,或者說是器件廠商對精密儀器以及精密測試的認識。不同測試設備、不同測試系統搭建方法都會對測試的精度、可靠性和可操作性產生影響。本文簡要介紹光無源器件的測試,并討論不同測試系統對精

    光無源器件的跳線相關介紹

      將一根光纖的兩頭都裝上插頭,稱為跳線。連接器插頭是跳線的特殊情況,即只在光纖的一頭裝有插頭。在工程及儀表應用中,大量使用著各種型號、規格的跳線,跳線中光纖兩頭的插頭可以是同一型號,也可以是不同的型號。跳線可以是單芯的,也可以是多芯的。跳線的價格主要由接頭的質量決定。因而價格也相差較大。在選用跳線

    簡述光無源器件的工作原理

      光無源器件是光纖通信設備的重要組成部分。它是一種光學元器件,其工藝原理遵守光學的基本規律及光線理論和電磁波理論、各項技術指標、多種計算公式和各種測試方法,與纖維光學、集成光學息息相關;因此它與電無源器件有本質的區別。在光纖有線電視中,其起著連接、分配、隔離、濾波等作用。實際上光無源器件有很多種,

    光無源器件光開光的分類

      根據其工作原理,光開關可分為機械式和非機械式兩大類。機械式光開關靠光纖或光學元件移動使光路發生改變,目前市場上的光開關一般為機械式,其優點是插入損耗低,一般小于1.5dB;隔離度高,一般大于45dB,不受偏振和波長的影響。非機械式光開關則依靠電光效應、磁光效應、聲光效應以及熱光效應來改變波導折射

    簡介光無源器件光源的選擇

      除了相干長度,激光光源信噪比是另一個關鍵參數,激光光源的信號與源自發輻射噪聲的比值(S/SSE)是限制測試動態范圍的關鍵因素。如果S/SSE只有60dB,那么當測試65dB的濾光片時由于濾光片不能濾去自發輻射噪聲,所以測試只能顯示60dB,導致測試失敗。一般而言,可調諧激光光源的S/SSE有75

    基于微波光子技術的構架和路線探討-(六)

    3.4 微波光子相控陣的研究技術路線 前已述及,從面向工程應用角度考慮,一個性能更強大和使微波光子技術更接近實際應用的技術手段應當是光電混合集成。通過集成,長光纖引起的環境因素相關的系統不穩定性被顯著消除;平臺載荷受限的壓力得到顯著緩解;同時,通過集成實現批量生產,才可顯著降低光學器件的成

    基于ADS的射頻微波元器件模型庫構建(一)

    仿真是早期驗證最重要、最直觀的手段,也是研發過程中發現問題和優化設計的重要途徑。本文針對不同類型器件,提出了基于原理圖模型、行為級模型以及測試模型,建立射頻微波模型庫。其中,使用基于測試結果的X參數能夠成功對放大模塊、檢波器、混頻器等非線性器件進行有效建模。統一的射頻元器件模型平臺將使現有的元器件參

    基于HFSS的射頻微波系統設計仿真平臺介紹

    一、概述:射頻/微波電路是雷達、導航、測控、制導、通信和電子對抗系統的重要組成部分,對系統的性能和可靠性有重要影響。隨著小型化要求和系統指標包括發射功率、接收靈敏度、工作帶寬、通道一致性的不斷提高,對射頻微波有源和無源電路提出了更高的要求,進一步加大了設計難度,主要體現在:1)、技術指標高,設計調試

    3D打印毫米波太赫茲無源器件(二)

    2. History of the 3D Printing TechnologyGenerally, the 3D printing technologies could be categorized as binding and depositing in terms of process

    光無源器件測試系統相關介紹

      所謂測試系統主要是指兩個以上測試表或模塊聯合工作,形成組合之后新的操作界面,并完成自動測試的測試設備。傳統系統搭建是通過一臺計算機,用GPIB口控制幾臺光測試儀表進行,這里著重介紹通過模塊組裝系統的方法。其主要思路是,測試主機本身就是一臺標準電腦,測試主機帶有5個插槽,可以插入測試模塊,組成簡單

    關于光無源器件光纖的相關介紹

      光纖活動連接器,俗稱活接頭,國際電信聯盟(ITU)建議將其定義為“用以穩定地,但并不是永久地連接兩根或多根光纖的無源組件”(CCITT第VI研究組1992年3月于 日內瓦通過)。是用于光纖與光纖之間進行可拆卸(活動)連接的器件.它是把光纖的兩個端面精密對接起來,以使發射光纖輸出的光能量能最大限度

    光無源器件光開光的相關介紹

      光開關是一種光路控制器件,起著切換光路的作用,在光纖傳輸網絡和各種光交換系統中,可由微機控制實現分光交換,實現各終端之間、終端與中心之間信息的分配與交換智能化;在普通的光傳輸系統中,可用于主備用光路的切換,也可用于光纖、光器件的測試及光纖傳感網絡中,使光纖傳輸系統,測量儀表或傳感系統工作穩定可靠

    光無源器件的相關測試方法簡介

      由于測試光先通過回損儀再通過偏振控制器,所以光源輸出端與偏振控制器輸入端之間的光偏振狀態不會發生大的變化,也就是說系統可測得較準確的DUT PDL值。然而問題還沒有解決,PDL是可以了,但回波損耗測試卻受到影響。我們知道,測試DUT回波損耗需要先測出測試系統本身的回光功率,然后測出系統與DUT共

    高功率固態功率源及其標準化通過現場測試

    原文地址:http://news.sciencenet.cn/htmlnews/2023/9/508518.shtm 加速器驅動嬗變研究裝置(簡稱“CiADS”)是中國科學院近代物理研究所承擔建設的國家重大科技基礎設施,將建成全球首個兆瓦級加速器驅動次臨界系統(ADS)研究裝置。大型加速器的工業

    常見的功率半導體器件有哪些?(二)

    5、PEBB(PowerElectricBuildingBlock)電力電子積木PEBB(PowerElectricBuildingBlock)是在IPEM的基礎上發展起來的可處理電能集成的器件或模塊。PEBB并不是一種特定的半導體器件,它是依照最優的電路結構和系統結構設計的不同器件和技術的

    石墨烯薄膜可冷卻高功率電子器件

      隨著設備和組件變得越來越小,在未來超高效電子系統的開發中,電子和光電子的散熱是一個嚴重問題。現在,瑞典查爾姆斯理工大學的研究人員開發出一種通過功能化石墨烯納米薄片高效冷卻電子器件的技術,或可為解決這一問題鋪平道路。相關研究成果發表在最新一期的《自然·通訊》雜志上。  在實驗中,科學家研究了被固定

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      隨著設備和組件變得越來越小,在未來超高效電子系統的開發中,電子和光電子的散熱是一個嚴重問題。現在,瑞典查爾姆斯理工大學的研究人員開發出一種通過功能化石墨烯納米薄片高效冷卻電子器件的技術,或可為解決這一問題鋪平道路。相關研究成果發表在最新一期的《自然·通訊》雜志上。   在實驗中,科學家研究了被固

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