X射線分析法的簡介
中文名稱X射線分析法英文名稱X-ray analysis定 義測量試樣在各種條件下所發射的特征X射線，或者是測定試樣的X射線衍射圖形，包括X射線衍射分析法、發射X射線譜法和吸收X射線譜法三類。應用學科機械工程（一級學科），分析儀器（二級學科），能譜和射線分析儀器-能譜和射線分析儀器分析原理（三級學科）......閱讀全文
X射線分析法的簡介
中文名稱X射線分析法英文名稱X-ray analysis定 義測量試樣在各種條件下所發射的特征X射線，或者是測定試樣的X射線衍射圖形，包括X射線衍射分析法、發射X射線譜法和吸收X射線譜法三類。應用學科機械工程（一級學科），分析儀器（二級學科），能譜和射線分析儀器-能譜和射線分析儀器分析原理（三級學
X射線熒光分析法簡介
X射線熒光分析法（X-ray fluorescence analysis），是對固體或液體試樣進行化學分析的一種非破壞性物理分析法。試樣在強X射線束照射下產生的熒光X射線被已知高點陣間距的晶體衍射而取得熒光X射線光譜。這種譜線的波長是試樣中元素定性分析的依據；譜線的強度是定量分析的依據。
X射線衍射分析法的簡介
X射線衍射分析。將具有一定波長的X射線照射到結晶性物質上時，X射線因在結晶內遇到規則排列的原子或離子而發生散射，散射的X射線在某些方向上相位得到加強，從而顯示與結晶結構相對應的特有的衍射現象。波長λ可用已知的X射線衍射角測定，進而求得面間隔，即結晶內原子或離子的規則排列狀態。將求出的衍射X射線強度和
X射線熒光分析法的簡介
中文名稱X射線熒光分析法英文名稱X-ray fluorescence analysis定 義對固體或液體試樣進行化學分析的一種非破壞性物理分析法。試樣在強X射線束照射下產生的熒光X射線被已知高點陣間距的晶體衍射而取得熒光X射線光譜。這種譜線的波長是試樣中元素定性分析的依據；譜線的強度是定量分析的依
X射線衍射分析法的簡介
X射線衍射分析。將具有一定波長的X射線照射到結晶性物質上時，X射線因在結晶內遇到規則排列的原子或離子而發生散射，散射的X射線在某些方向上相位得到加強，從而顯示與結晶結構相對應的特有的衍射現象。波長λ可用已知的X射線衍射角測定，進而求得面間隔，即結晶內原子或離子的規則排列狀態。將求出的衍射X射線強
X射線熒光分析法
原子發射與原子吸收光譜法是利用原子的價電子激發產生的特征光譜及其強度進行分析。?X-?射線熒光分析法則是利用原子內層電子的躍遷來進行分析。?X?射線是倫琴于?1895?年發現的一種電磁輻射，其波長為?0.01?～?10nm。在真空管內用電加熱燈絲（鎢絲陰極）產生大量熱電子，熱電子被高壓（萬伏）加速撞
X射線熒光光譜分析法的簡介
X射線熒光光譜分析法，利用原級X射線光子或其他微觀粒子激發待測物質中的原子，使之產生熒光（次級X射線）而進行物質成分分析和化學態研究的方法。 [1] 在成分分析方面，X射線熒光光譜分析法是現代常規分析中的一種重要方法。
X射線熒光分析法的應用
X射線熒光分析法用于物質成分分析，檢出限一般可達3-10～10-6克/克(g/g)，對許多元素可測到10-7～10-9g/g，用質子激發時 ，檢出可達10-12g/g；強度測量的再現性好；便于進行無損分析；分析速度快；應用范圍廣，分析范圍包括原子序數Z≥3的所有元素。除用于物質成分分析外，還可用
X射線衍射簡介
1912年，勞厄等人根據理論預見，證實了晶體材料中相距幾十到幾百皮米（pm）的原子是周期性排列的；這個周期排列的原子結構可以成為X射線衍射的“衍射光柵”；X射線具有波動特性， 是波長為幾十到幾百皮米的電磁波，并具有衍射的能力。??這一實驗成為X射線衍射學的第一個里程碑。當一束單色X射線入射到晶體時，
X射線分析的簡介
利用 X射線與物質間的交互作用來分析物質的結構、組織和成分的一種材料物理試驗。 X射線是德國人W C 倫琴于 1895年發現的。它是一種肉眼不可見的射線，但能使感光材料感光和熒光物質發光；具有較強的穿透物質的本領；能使氣體電離；與可見光一樣，它是沿直線傳播的，在電磁場中不發生偏轉。由于當時對其
關于X射線的簡介
X射線，是一種頻率極高，波長極短、能量很大的電磁波。 X射線的頻率和能量僅次于伽馬射線，頻率范圍30PHz~300EHz，對應波長為0.01nm~10nm [12] ，能量為124eV~1.24MeV。X射線具有穿透性，但人體組織間有密度和厚度的差異，當X射線透過人體不同組織時，被吸收的程度不
X射線管的簡介
利用高速電子撞擊金屬靶面產生 X射線的真空電子器件。按照產生電子的方式,X射線管可分為充氣管和真空管兩類。 充氣X射線管是早期的X射線管。1895年，W.C.倫琴在進行克魯克斯管實驗時發現了 X射線。克魯克斯管就是最早的充氣X射線管。這種管接通高壓后,管內氣體電離，在正離子轟擊下，電子從陰極逸
軟X射線的簡介
波長小于0.1埃的稱超硬X射線，在0.1～1埃范圍內的稱硬X射線，1～10埃范圍內的稱軟X射線(X射線波長略大于0.5nm的被稱作軟X射線)。
X射線攝譜儀的簡介
中文名稱X射線攝譜儀英文名稱X-ray spectrograph定 義配有照相或其他記錄裝置，能同時取得一定波長范圍Ｘ射線光譜的X射線光譜儀。應用學科機械工程（一級學科），分析儀器（二級學科），能譜和射線分析儀器-能譜和射線分析儀器儀器和附件（三級學科）
x射線測厚儀的簡介
X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時，X射線的強度的變化與材料的厚度相關的特性，從而測定材料的厚度，是一種非接觸式的動態計量儀器。它以PLC和工業計算機為核心，采集計算數據并輸出目標偏差值給軋機厚度控制系統，已達到要求的軋制厚度。
什么是X射線衍射分析法？
X射線衍射分析法是研究物質的物相和晶體結構的主要方法。當某物質(晶體或非晶體)進行衍射分析時,該物質被X射線照射產生不同程度的衍射現象,物質組成、晶型、分子內成鍵方式、分子的構型、構象等決定該物質產生特有的衍射圖譜。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無污染、快捷、測量精度高、能得到有關晶體完整性的大量
什么是X射線衍射分析法？
X射線衍射分析法是研究物質的物相和晶體結構的主要方法。當某物質(晶體或非晶體)進行衍射分析時,該物質被X射線照射產生不同程度的衍射現象,物質組成、晶型、分子內成鍵方式、分子的構型、構象等決定該物質產生特有的衍射圖譜。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無污染、快捷、測量精度高、能得到有關晶體完整性的大
X射線熒光分析法的應用特點
X射線熒光分析法用于物質成分分析，檢出限一般可達3-10～10-6克/克(g/g)，對許多元素可測到10-7～10-9g/g，用質子激發時 ，檢出可達10-12g/g；強度測量的再現性好；便于進行無損分析；分析速度快；應用范圍廣，分析范圍包括原子序數Z≥3的所有元素。除用于物質成分分析外，還可用于原
X射線熒光分析法的未來展望
X射線熒光分析法同其他分析技術一樣，不是完美無缺的。在物質成分分析中，它對一些最輕元素（Z≤8）的測定還不完全成熟，只能是屬于初期應用的階段。常規分析中某些元素的測定靈敏度不如原子發射光譜法高（采用同步輻射和質子激發的X射線熒光分析除外），根據各個工業部門生產自動化的要求（例如選礦流程中的自動控
激發X射線熒光分析法的概念
當α 、β、γ或X射線作用于樣品時，由于庫侖散射，軌道電子吸收其部分動能，使原子處于激發狀態。由激發態返回基態時發射特征X射線，根據此特征X射線的能量和強度來分析元素的種類和含量。其靈敏度很高，用途很廣。
X射線譜儀簡介
X射線譜儀設計有20路探測器，是此次載荷中探測器路數最多的系統，為有效預防多路探測器之間相互干擾，在硬/軟件設計中還專門設計了“隔離”探測器單元功能及對太陽監測器計數率的調閾指令，以提高探測器在軌長期工作的可靠性。 X射線譜儀指向月面，由16路硬X射線半導體探測器陣列，4路高分辨軟X射線半導體
X射線衍射技術簡介
物質結構的分析盡管可以采用中子衍射、電子衍射、紅外光譜、穆斯堡爾譜等方法，但是X射線衍射是最有效的、應用最廣泛的手段，而且X射線衍射是人類用來研究物質微觀結構的第一種方法。X射線衍射的應用范圍非常廣泛，現已滲透到物理、化學、地球科學、材料科學以及各種工程技術科學中，成為一種重要的實驗方法和結構分析手
脈沖X射線機簡介
一種大電流、高能量的電子加速器.它能夠提供極強且短的X射線脈沖，以供炸藥和炸藥驅動金屬系統的閃光射線照相研究. 脈沖X射線機：該裝置主要由電子光學系統（包括注入器、透鏡、脈沖發生器、電子槍等）、射頻高壓電源和機械系統等部分組成.由于它一方面能像普通的閃光X射線照相或陰影射線照相，另一方面又能使
X射線分光裝置簡介
中文名稱X射線分光裝置英文名稱X-ray spectroscope apparatus定 義用以使X射線產生波長色散的裝置。應用學科機械工程（一級學科），分析儀器（二級學科），能譜和射線分析儀器-能譜和射線分析儀器儀器和附件（三級學科）
X射線管原理簡介
X 射線管包含有陽極和陰極兩個電極，分別用于用于接受電子轟擊的靶材和發射電子的燈絲。兩級均被密封在高真空的玻璃或陶瓷外殼內。X 射線管供電部分至少包含有一個使燈絲加熱的低壓電源和一個給兩極施加高電壓的高壓發生器。當鎢絲通過足夠的電流使其產生電子云，且有足夠的電壓（千伏等級）加在陽極和陰極間，使得
簡介X射線機的分類
便攜式X射線機可分為醫用便攜式X射線機，工業X射線機檢查，皮帶X射線機檢查 X射線檢測設備檢測的大多是電子元器件，而電子元器件生產制造方面自然X射線檢測設備也就屬于X光機工業測試屬于此類。 購買X射線檢測設備主要考慮的就是其價格、用途、解析度、售后服務等綜合因素。進口品牌比國內品牌貴，但是國
多晶x射線衍射的簡介
用 X射線衍射法研究多晶樣品的成分和結構的一種實驗方法，也稱粉末法。多晶是指由無數微細晶粒組成的細粉狀樣品或塊狀樣品。
X射線衍射分析的簡介
X射線衍射相分析（phase analysis of xray diffraction）利用X射線在晶體物質中的衍射效應進行物質結構分析的技術。每一種結晶物質，都有其特定的晶體結構，包括點陣類型、晶面間距等參數，用具有足夠能量的x射線照射試樣，試樣中的物質受激發，會產生二次熒光X射線（標識X射線
X射線單色器的簡介
中文名稱X射線單色器英文名稱X-ray monochrometer定 義利用單晶體衍射作用以取得單色X射線束的裝置。應用學科機械工程（一級學科），分析儀器（二級學科），能譜和射線分析儀器-能譜和射線分析儀器儀器和附件（三級學科）
X射線攝影裝置的簡介
一種X射線攝影裝置，具有使其徑向相對地面垂直地配置的圓環狀的保持體、可沿保持體的周面回轉地受到保持的圓環狀的回轉體、及分別配置在回轉體的內周面的徑向相向位置的X射線源和平板型2維X射線檢測器，使上述回轉體回轉，可獲得位于該回轉體內的空間內的被檢查體全周方向的X射線圖像數據。這樣，可獲得X射線管和